Высоковольтные измерители параметров изоляции

ROSEL logo rgbEN color

Лаборатория физико-химических исследований

Лаборатория физико-химических исследований



Исследование материалов и изделий с помощью растрового электронного микроскопа VEGA 3 SBH с системой рентгеновского энергодисперсионного микроанализа.

В состав микроскопа входят детекторы: SE, BSE, EDS.

Микроскоп позволяет:

  • изучать нанообъекты и наноструктуры от 3 нм;
  • производить поиск дефектов изделий;
  • измерять угловые и линейные размеры мелких деталей;
  • проводить гранулометрический анализ порошков;
  • определять химический состав материалов от бериллия до урана, порошков и изделий (без разрушения);
  • строить карты распределения веществ в материалах и изделиях с выявлением различных фаз веществ.

Требования к образцам:

  • габаритные размеры:
    - высота не более 30 мм;
    - ширина и длина не более 150 мм;
  • для получения изображений хорошего качества при больших увеличениях образцы должны быть токопроводящими или с напылением токопроводящего покрытия (обычно углерод толщиной несколько нанометров);
  • микрошлифы материалов для точного определения химического состава с погрешностью измерения менее 0,1% (для неподготовленных образцов погрешность измерения может доходить до нескольких процентов).
isp-lab-1 isp-lab-2
Дефекты на металлофольговом резисторе Измерение угловых и линейных
isp-lab-3
Гранулометрический анализ порошка
isp-lab-4
Определение химического состава
isp-lab-5
Построение карт распределения веществ в микросхеме
isp-lab-6
Анализ фаз

Определение твердости материалов

В лаборатории имеется микротвердомер ПМТ-3, который позволяет определять твердость различных материалов по Викерсу.

Физические и химические исследования

1. Определение механических параметров материалов в виде проволоки и ленты при испытании на растяжение по ГОСТ 1497-73:

  • усилие растяжения от 5сН до 500Н;
  • скорость растяжения от 1 до 50мм/мин;
  • начальная длина образца от 10 до 500мм;
  • компьютерная обработка результатов испытания с построением диаграммы растяжения и расчётом механических параметров;
  • определение коэффициента Пуассона резистивных материалов в виде микропроволоки.

Возможно определение коэффициента тэнзочувствительности.

2. Термическая обработка материалов в вакууме:

  • температура обработки от 300 до 500 0С;
  • остаточное давление воздуха в камере 5х10-4мм.рт.ст;
  • точность задания температуры ±1 0С;
  • точность поддержания температуры ±1 0С;
  • геометрические размеры образцов не более 200х10х10 мм.

3. Определение микротвёрдости материалов.

4. Дифференциально-термический анализ:

  • возможность определения теплофизических характеристик материалов (изменение веса (ТГ), скорость изменения веса (ДТГ), изменение содержания тепла (ДТА) в зависимости от нагрева до 1000 (1500) 0С с постоянной скоростью);
  • определение термографических характеристик материалов при квази-изобарно-изометрических исследованиях до 1000 0С.